Periodo de publicación recogido
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Effect of HTRB lifetest on AlGaN/GaN HEMTs under different voltages and temperatures stresses
Omar Chihani, Loïc Théolier, Alain Bensoussan, Jean-Yves Deletage, André Durier, Eric Woirgard
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 402-405
Lifetime of power electronics interconnections in accelerated test conditions: High temperature storage and thermal cycling
Wissam Sabbah, Faical Arabi, Oriol Avino-Salvado, Cyril Buttay, Loïc Théolier, Hervé Morel
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 444-449
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