Periodo de publicación recogido
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Complex automotive ICs defect localization driven by quiescent power supply current: Three cases study
G. Marcello, E. Meda, M. Medda
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 294-298
Practical optical gain by an extended Hakki-Paoli method
M. Vanzi, G. Marcello, G. Mura, G. Le Galès, S. Joly, Y. Deshayes, L. Béchou
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 579-583
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