Periodo de publicación recogido
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Practical optical gain by an extended Hakki-Paoli method
M. Vanzi, G. Marcello, G. Mura, G. Le Galès, S. Joly, Y. Deshayes, L. Béchou
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 579-583
Lot reliability issues in commercial off the shelf (COTS) microelectronic devices.
G. Mura, M. Vanzi
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1196-1199
Sulfur-contamination of high power white LED.
G. Mura, G. Cassanelli, F. Fantini, M. Vanzi
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1208-1211
High temperature electro-optical degradation of InGaN/GaN HBLEDs.
M. Meneghini, L. Trevisanello, C. Sanna, G. Mura, M. Vanzi, G. Meneghesso, E. Zanoni
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1625-1629
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