Xingji Li

• Artículos de revistas (2)

• Artículos de revistas

  • The effect of ionization and displacement damage on minority carrier lifetime

    Jianqun Yang, Xingji Li, Chaoming Liu, D.M. Fleetwood

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 82, 2018, págs. 124-129

    • Resumen
    

  • Synergistic effects of NPN transistors caused by combined proton irradiations with different energies

    Xingji Li, Jianqun Yang, Chaoming Liu, Gang Bai, Wenbo Luo, Pengwei Li

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 82, 2018, págs. 130-135

    • Resumen
    

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