Periodo de publicación recogido
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Effect of OFF-state stress on reliability of nMOSFET in SWD circuits of DRAM
Jongkyun Kim, Namhyun Lee, Gang-Jun Kim, Young-Yun Lee, Jungeun Seok, Yunsung Lee
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 183-185
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