Periodo de publicación recogido
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Numerical modeling of radiation-induced charge loss in CMOS floating gate cells
Lucas Sambuco Salomone, Mariano García Inza, Sebastián Carbonetto, Adrián Faigón
Elektron: ciencia y tecnología en la electrónica de hoy, ISSN-e 2525-0159, Vol. 5, Nº. 2, 2021, págs. 100-104
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