Periodo de publicación recogido
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B. M. Al Hashimi
Journal of electronic testing: Theory and applications, ISSN 0923-8174, Nº. 1, 2006, págs. 9-10
Testability Trade-Offs for BIST Data Paths
B. M. Al Hashimi, N. Nicolici
Journal of electronic testing: Theory and applications, ISSN 0923-8174, Nº. 2, 2004, págs. 169-179
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