Room temperature observation of point defect on gold surface using thermovoltage mapping.

• Autores: A. Roy, C.M. Tan, S.J. O'Shea, K. Hippalgaonkar, W. Hofbauer
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1580-1584
• Idioma: inglés
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