Reliability aspects of a radiation detector fabricated by post-processing a standard CMOS chip.

• Autores: C. Salm, V.M. Blanco Carballo, J. Melai, J. Schmitz
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1139-1143
• Idioma: inglés
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