Periodo de publicación recogido
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Reliability aspects of a radiation detector fabricated by post-processing a standard CMOS chip.
C. Salm, V.M. Blanco Carballo, J. Melai, J. Schmitz
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1139-1143
RF CMOS reliability simulations.
G.T. Sasse, M. Acar, F.G. Kuper, J. Schmitz
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1581-1585
M. Dahl, J. Schmitz
Neue Zeitschrift für Gesellschaftsrecht, ISSN 1434-9272, Nº. 14, 2008, págs. 532-534
Low-frequency noise in hot-carrier degraded nMOSFETs.
C. Salm, E. Hoekstra, J.S. Kolhatkar, A.J. Hof, H. Wallinga, J. Schmitz
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 4-5, 2007, págs. 577-580
Nuevas tendencias de la protección modular de transformadores
F. Schlüter, J. Schmitz
Energía: Ingeniería energética y medioambiental, ISSN 0210-2056, Año nº 23, Nº 2, 1997, págs. 77-83
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