Detectability of dynamic photon emission in static Si CCD for signal path determination in integrated circuits.

• Autores: P. Laskowski, A. Glowacki, C. Boit
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1295-1299
• Idioma: inglés
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