Dynamic stress method for accurate NVM oxide robustness evaluation for automotive applications.

• Autores: D. Pic, A. Regnier, V. Pean, J.L. Ogier, D. Goguenheim
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1318-1321
• Idioma: inglés
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