A. Regnier

• Artículos de revistas (2)

• Artículos de revistas

  • Quantitative correlation between Flash and equivalent transistor for endurance electrical parameters extraction

    V. Della Marca, J. Postel-Pellerin, T. Kempf, A. Regnier, P. Chiquet, M. Bocquet

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 159-163

    • Resumen
    

  • Dynamic stress method for accurate NVM oxide robustness evaluation for automotive applications.

    D. Pic, A. Regnier, V. Pean, J.L. Ogier, D. Goguenheim

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1318-1321

    

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