Dynamic study of the thermal laser stimulation response on advanced technology structures.

• Autores: A. Reverdy, M. De la Bardonnie, P. Poirier, H. Murray, P. Perdu, A. Boukkali
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 10, 2008, págs. 1689-1695
• Idioma: inglés
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