Analysis of humidity effects on the degradation of high-power white LEDs.

• Autores: C.M. Tan, B.K. Eric Chen, G. Xu, Y. Liu
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1226-1230
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)