Improving Random Patters Testability with Partial Circuit Duplication Approach

• Autores: H. Yokoyama, Xiaoqing Wen, H. Tamamoto
• Localización: IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 81, Nº 7, 1998, págs. 654-659
• Idioma: inglés
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