Xiaoqing Wen

• Artículos de revistas (5)

• Artículos de revistas

  • A Novel ATPG Method for Capture Power Reduction during Scan Testing

    Xiaoqing Wen

    IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 90, Nº 9, 2007, págs. 1398-1405

    

  • A New Method for Low-Capture-Power Test Generation for Scan Testing

    Xiaoqing Wen

    IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 89, Nº 5, 2006, págs. 1679-1686

    

  • On Desing for IDDQ-Based Diagnosability of CMOS Circuits Using Multiple Power Supplies

    Xiaoqing Wen

    IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 88, Nº 4, 2005, págs. 703-710

    

  • Improving Random Patters Testability with Partial Circuit Duplication Approach

    H. Yokoyama, Xiaoqing Wen, H. Tamamoto

    IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 81, Nº 7, 1998, págs. 654-659

    

  • Transistor Leakage Fault Diagnosis for CMOS Circuits

    Xiaoqing Wen

    IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 81, Nº 7, 1998, págs. 697-705

    

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