Genaration of Test Sequences with Low Power Dissipation for Sequential Circuits

• Autores: Yoshinobu Higami, Satoshi Kobayashi, Y. Takamatsu
• Localización: IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 87, Nº 3, 2004, págs. 530-536
• Idioma: inglés
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