Yoshinobu Higami
Periodo de publicación recogido
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Artículos de revistas
Fault Simulation and Test Generation for Transistor Shorts Using Stuck-at Test Tools
Yoshinobu Higami
IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 91, Nº 3, 2008, págs. 690-699
On Finding Don't Cares in Test Sequences for Sequential Circuits
Yoshinobu Higami
IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 89, Nº 11, 2006, págs. 2748-2755
Genaration of Test Sequences with Low Power Dissipation for Sequential Circuits
Yoshinobu Higami, Satoshi Kobayashi, Y. Takamatsu
IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 87, Nº 3, 2004, págs. 530-536
Test Generation for Sequential Circuits under IDDQ Testing
Taro Maeda, Yoshinobu Higami, K. Kinosita
IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 81, Nº 7, 1998, págs. 689-696
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