Y. Takamatsu

• Artículos de revistas (7)

• Artículos de revistas

  • A Method of Locating Open Faults on Incompletely Identified Pass/Fail Information

    Koichi Yamazaki, Y. Takamatsu

    IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 91, Nº 3, 2008, págs. 661-666

    

  • Fault Diagnosis on Multiple Fault Models by Using Pass/Fail Information

    Y. Takamatsu

    IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 91, Nº 3, 2008, págs. 675-682

    

  • Genaration of Test Sequences with Low Power Dissipation for Sequential Circuits

    Yoshinobu Higami, Satoshi Kobayashi, Y. Takamatsu

    IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 87, Nº 3, 2004, págs. 530-536

    

  • AN Alternative Test Generation for Path Delay Faults by Using Ni-Detection Test Sets

    Haruhisa Takahashi, K. Saluja, Y. Takamatsu

    IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 86, Nº 12, 2003, págs. 2650-2658

    

  • Diagnosing Delay Faults in Combinational Circuits under the Ambiguous Delay Model

    K. O. Boateng, Haruhisa Takahashi, Y. Takamatsu

    IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 82, Nº 12, 1999, págs. 1563-1571

    

  • A Method of Generating Tests with Linearity Property for Gate Delay Faults in Combinatorial Circuits

    Haruhisa Takahashi, K. O. Boateng, Y. Takamatsu

    IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 82, Nº 11, 1999, págs. 1466-1473

    

  • Multiple Gate Delay Fault Diagnosis Using Test-Pairs for Marginal Delays

    K. O. Boateng, Haruhisa Takahashi, Y. Takamatsu

    IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 81, Nº 7, 1998, págs. 706-715

    

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