AN Alternative Test Generation for Path Delay Faults by Using Ni-Detection Test Sets

• Autores: Haruhisa Takahashi, K. Saluja, Y. Takamatsu
• Localización: IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 86, Nº 12, 2003, págs. 2650-2658
• Idioma: inglés
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