Periodo de publicación recogido
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Post-BIST Fault Diagnosis for Multiple Faults
Haruhisa Takahashi
IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 91, Nº 3, 2008, págs. 771-775
Kernel Selection for the Support Vector Machine
Debatosh Debnath, Rameswar, Haruhisa Takahashi
IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 87, Nº 12, 2004, págs. 2903-2904
AN Alternative Test Generation for Path Delay Faults by Using Ni-Detection Test Sets
Haruhisa Takahashi, K. Saluja, Y. Takamatsu
IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 86, Nº 12, 2003, págs. 2650-2658
Diagnosing Crosstalk Faults in Sequential Circuits Using Fault Simulation
Haruhisa Takahashi
IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 85, Nº 10, 2002, págs. 1515-1525
Diagnosing Delay Faults in Combinational Circuits under the Ambiguous Delay Model
K. O. Boateng, Haruhisa Takahashi, Y. Takamatsu
IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 82, Nº 12, 1999, págs. 1563-1571
A Method of Generating Tests with Linearity Property for Gate Delay Faults in Combinatorial Circuits
Haruhisa Takahashi, K. O. Boateng, Y. Takamatsu
IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 82, Nº 11, 1999, págs. 1466-1473
Evolutional Design and Training Algorithm for Feedforward Neural Networks
Haruhisa Takahashi, Masayuki Nakajima
IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 82, Nº 10, 1999, págs. 1384-1392
Multiple Gate Delay Fault Diagnosis Using Test-Pairs for Marginal Delays
K. O. Boateng, Haruhisa Takahashi, Y. Takamatsu
IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 81, Nº 7, 1998, págs. 706-715
Learning curves in learning with noise - An empirical study -
Hanzhonh Gu, Haruhisa Takahashi
IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 80, Nº. 1, 1997, págs. 78-85
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