K. O. Boateng

• Artículos de revistas (4)

• Artículos de revistas

  • Desing of C-Testable Modified-Booth Multipliers

    K. O. Boateng

    IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 83, Nº 10, 2000, págs. 1868-1878

    

  • Diagnosing Delay Faults in Combinational Circuits under the Ambiguous Delay Model

    K. O. Boateng, Haruhisa Takahashi, Y. Takamatsu

    IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 82, Nº 12, 1999, págs. 1563-1571

    

  • A Method of Generating Tests with Linearity Property for Gate Delay Faults in Combinatorial Circuits

    Haruhisa Takahashi, K. O. Boateng, Y. Takamatsu

    IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 82, Nº 11, 1999, págs. 1466-1473

    

  • Multiple Gate Delay Fault Diagnosis Using Test-Pairs for Marginal Delays

    K. O. Boateng, Haruhisa Takahashi, Y. Takamatsu

    IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 81, Nº 7, 1998, págs. 706-715

    

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