Comments on “Extend orthogonal Latin square codes for 32-bit data protection in memory applications” Microelectron. Reliab. 63, 278–283 (2016)

• Autores: Shanshan Liu, Pedro Reviriego Vasallo, Alfonso Sánchez-Macián, Juan Antonio Maestro, Liyi Xiao
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 69, 2017, págs. 126-129
• Idioma: inglés
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