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Comments on “Extend orthogonal Latin square codes for 32-bit data protection in memory applications” Microelectron. Reliab. 63, 278–283 (2016)
Autores:
Shanshan Liu
,
Pedro Reviriego Vasallo
,
Alfonso Sánchez-Macián
,
Juan Antonio Maestro
,
Liyi Xiao
Localización:
Microelectronics reliability
,
ISSN
0026-2714,
Nº. 69, 2017
,
págs.
126-129
Idioma:
inglés
Texto completo no disponible
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