Simulación y generación de vectores de test para circuitos integrados mediante el uso de transputers

• Autores: Eduardo Torre Arnanz, Y. Torroja, Teresa Riesgo, J. Uceda
• Localización: Diseño de circuitos integrados: actas del VI Congreso. Santander, 11/15 de noviembre de 1991, 1991, ISBN 84-87412-61-0, págs. 393-398
• Idioma: español
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• Resumen

  • En este artículo se abordan las posibilidades de utilización de arquitecturas paralelo basadas en Transputers para la resolución de problemas CAD que requieren elevado tiempo de ejecución: simulación digital, simulación de fallos y generación automática de vectores de test. Por un lado se expone la posibilidad de utilización del lenguaje Occam, característico del Transputer, como lenguaje de descripción hardware y, por otro lado, se analizan las diferentes posibilidades de partición de dichos algoritmos aplicados sobre una red de Transputers.