Michel Renovell

• Artículos de revistas (4)

• Artículos de revistas

  • An Efficient BIST Architecture for Delay Faults in the Logic Cells of Symmetrical SRAM-Based FPGAs

    Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Michel Renovell

    Journal of electronic testing: Theory and applications, ISSN 0923-8174, Nº. 2, 2006, págs. 161-172

    • Resumen
    

  • Automatic Test Pattern Generation for Resistive Bridging Faults

    P. Engelke, Michel Renovell, I. Polian

    Journal of electronic testing: Theory and applications, ISSN 0923-8174, Nº. 1, 2006, págs. 61-69

    

  • Guest Editorial

    José Luis Huertas Díaz, Michel Renovell, A. N. Rueda

    Journal of electronic testing: Theory and applications, ISSN 0923-8174, Nº. 3, 2005, pág. 203

    

  • Modeling Feedback Bridging Faults with Non-Zero Resistance

    I. Polian, Michel Renovell, P. Engelke

    Journal of electronic testing: Theory and applications, ISSN 0923-8174, Nº. 1, 2005, págs. 57-69

    

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