Patrick Girard

• Artículos de revistas (3)

• Artículos de revistas

  • An Efficient BIST Architecture for Delay Faults in the Logic Cells of Symmetrical SRAM-Based FPGAs

    Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Michel Renovell

    Journal of electronic testing: Theory and applications, ISSN 0923-8174, Nº. 2, 2006, págs. 161-172

    • Resumen
    

  • Efficient March Test Procedure for Dynamic Read Destructive Fault Detection in SRAM Memories

    Serge Pravossoudovitch, L. Dilillo, Patrick Girard

    Journal of electronic testing: Theory and applications, ISSN 0923-8174, Nº. 5, 2005, págs. 551-561

    

  • Delay Fault Testing of Look-Up Tables in SRAM-Based FPGAs

    Patrick Girard

    Journal of electronic testing: Theory and applications, ISSN 0923-8174, Nº. 1, 2005, págs. 43-55

    

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