Efficient March Test Procedure for Dynamic Read Destructive Fault Detection in SRAM Memories

• Autores: Serge Pravossoudovitch, L. Dilillo, Patrick Girard
• Localización: Journal of electronic testing: Theory and applications, ISSN 0923-8174, Nº. 5, 2005, págs. 551-561
• Idioma: inglés
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