L. Dilillo

• Artículos de revistas (2)

• Artículos de revistas

  • A calculation method to estimate single event upset cross section

    F. Wrobel, A.D. Touboul, V. Pouget, L. Dilillo, J. Boch, F. Saigné

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 644-649

    • Resumen
    

  • Efficient March Test Procedure for Dynamic Read Destructive Fault Detection in SRAM Memories

    Serge Pravossoudovitch, L. Dilillo, Patrick Girard

    Journal of electronic testing: Theory and applications, ISSN 0923-8174, Nº. 5, 2005, págs. 551-561

    

Esta página recoge referencias bibliográficas de materiales disponibles en los fondos de las Bibliotecas que participan en Dialnet. En ningún caso se trata de una página que recoja la producción bibliográfica de un autor de manera exhaustiva. Nos gustaría que los datos aparecieran de la manera más correcta posible, de manera que si detecta algún error en la información que facilitamos, puede hacernos llegar su Sugerencia / Errata.