V. Pouget

• Artículos de revistas (6)

• Artículos de revistas

  • A calculation method to estimate single event upset cross section

    F. Wrobel, A.D. Touboul, V. Pouget, L. Dilillo, J. Boch, F. Saigné

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 644-649

    • Resumen
    

  • Structural pattern extraction from asynchronous two-photon laser fault injection using spectral analysis

    V. Pouget, S. Jonathas, R. Job, J.R. Vaillé, F. Wrobel, F. Saigné

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 650-654

    • Resumen
    

  • Electrical modeling of the effect of beam profile for pulsed laser fault injection.

    C. Godlewski, V. Pouget, D. Lewis, M. Lisart

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1143-1147

    

  • Net integrity checking by optical localization techniques.

    G. Haller, A. Machouat, D. Lewis, V. Pouget

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1175-1781

    

  • Effect of physical defect on shmoos in CMOS DSM technologies.

    A. Machouat, G. Haller, V. Gouber, D. Lewis, P. Perdu, V. Pouget, P. Fouillat, F. Essely

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1333-1338

    

  • Configuration errors analysis in SRAM-based FPGAs: Software tool and practical results.

    V. Maingot, J.B. Ferron, R. Leveugle, V. Pouget, A. Douin

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1836-1840

    

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