Periodo de publicación recogido
|
|
|
Introduction to Focus Issue: Objective Detection of Coherent Structures.
T. Peacock, G. Froyland, G. Haller
Chaos: An interdisciplinary journal of nonlinear science, ISSN 1054-1500, Vol. 25, Nº. 8, 2015, pág. 87201
Net integrity checking by optical localization techniques.
G. Haller, A. Machouat, D. Lewis, V. Pouget
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1175-1781
Effect of physical defect on shmoos in CMOS DSM technologies.
A. Machouat, G. Haller, V. Gouber, D. Lewis, P. Perdu, V. Pouget, P. Fouillat, F. Essely
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1333-1338
Generic simulator for faulty IC.
J. Ferrigno, A. Machouat, P. Perdu, D. Lewis, G. Haller, V. Goubier
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1592-1597
Investigation of a new method for dopant characterization.
J. Adrian, N. Rodriguez, F. Essely, G. Haller, C. Grosjean, A. Portavoce, C. Girardeaux
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1599-1603
Esta página recoge referencias bibliográficas de materiales disponibles en los fondos de las Bibliotecas que participan en Dialnet. En ningún caso se trata de una página que recoja la producción bibliográfica de un autor de manera exhaustiva. Nos gustaría que los datos aparecieran de la manera más correcta posible, de manera que si detecta algún error en la información que facilitamos, puede hacernos llegar su Sugerencia / Errata.
© 2001-2024 Fundación Dialnet · Todos los derechos reservados