Periodo de publicación recogido
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Automatic Test Pattern Generation for Resistive Bridging Faults
P. Engelke, Michel Renovell, I. Polian
Journal of electronic testing: Theory and applications, ISSN 0923-8174, Nº. 1, 2006, págs. 61-69
Modeling Feedback Bridging Faults with Non-Zero Resistance
I. Polian, Michel Renovell, P. Engelke
Journal of electronic testing: Theory and applications, ISSN 0923-8174, Nº. 1, 2005, págs. 57-69
Scalable Delay Fault BIST for Use with Low-Cost ATE
I. Polian, B. Becker
Journal of electronic testing: Theory and applications, ISSN 0923-8174, Nº. 2, 2004, págs. 181-197
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