Periodo de publicación recogido
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K. Hasegawa, S. Nishizawa, I. Omura
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 433-437
DC-bias-voltage dependence of degradation of aluminum electrolytic capacitors
K. Hasegawa, K. Tsuzaki, S. Nishizawa
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 83, 2018, págs. 115-118
Estimation method for the current of microstrip jne using a Green's function
O. Hashimoto, S. Nishizawa, I. Wu
Microwave and optical technology letters, ISSN 0895-2477, Vol. 47, Nº. 5, 2005, págs. 467-469
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