Periodo de publicación recogido
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K. Hasegawa, S. Nishizawa, I. Omura
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 433-437
Bias voltage criteria of gate shielding effect for protecting IGBTs from shoot-through phenomena
M. Tsukuda, S. Abe, K. Hasegawa, T. Ninomiya, I. Omura
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 482-485
Bat-Otgon Bat-Ochir, Battuvshin Bayarkhuu, K. Hasegawa, M. Tsukuda, Bayasgalan Dugarjav, I. Omura
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 500-504
DC-bias-voltage dependence of degradation of aluminum electrolytic capacitors
K. Hasegawa, K. Tsuzaki, S. Nishizawa
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 83, 2018, págs. 115-118
Young's modulus of a sintered Cu joint and its influence on thermal stress
T. Ishizaki, D. Miura, A. Kuno, K. Hasegawa, M. Usui, Y. Yamada
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 405-408
S. Abe, K. Hasegawa, M. Tsukuda, Koichi Wada, I. Omura, T. Ninomiya
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 465-469
Clamp type built-in current sensor using PCB in high-voltage power modules
M. Tsukuda, K. Nakashima, S. Tabata, K. Hasegawa, I. Omura
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 517-521
Dialogue-Based Broadcasting Protocol for Wireless Ad Hoc Networks
K. Hasegawa
IEICE transactions on fundamentals of electronics, communications and computer, ISSN 0916-8508, Vol. 91, Nº 7, 2008, págs. 1642-1651
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