Periodo de publicación recogido
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Bias voltage criteria of gate shielding effect for protecting IGBTs from shoot-through phenomena
M. Tsukuda, S. Abe, K. Hasegawa, T. Ninomiya, I. Omura
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 482-485
IP Packet Size Entropy-Based Scheme for Detection of DoS/DDoS Attacks
P. Du, S. Abe
IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 91, Nº 5, 2008, págs. 1274-1281
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