I. Omura

• Artículos de revistas (9)

• Artículos de revistas

  • ESR and capacitance monitoring of a dc-link capacitor used in a three-phase PWM inverter with a front-end diode rectifier

    K. Hasegawa, S. Nishizawa, I. Omura

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 433-437

    • Resumen
    

  • A power cycling degradation inspector of power semiconductor devices

    A. Watanabe, I. Omura

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 458-461

    • Resumen
    

  • Bias voltage criteria of gate shielding effect for protecting IGBTs from shoot-through phenomena

    M. Tsukuda, S. Abe, K. Hasegawa, T. Ninomiya, I. Omura

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 482-485

    • Resumen
    

  • Envelop tracking based embedded current measurement for monitoring of IGBT and power converter system

    Bat-Otgon Bat-Ochir, Battuvshin Bayarkhuu, K. Hasegawa, M. Tsukuda, Bayasgalan Dugarjav, I. Omura

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 500-504

    • Resumen
    

  • A fully digital feedback control of gate driver for current balancing of parallel connected power devices

    R.N. Tripathi, M. Tsukuda, I. Omura

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 505-509

    • Resumen
    

  • Modelling of the shoot-through phenomenon introduced by the next generation IGBT in inverter applications

    S. Abe, K. Hasegawa, M. Tsukuda, Koichi Wada, I. Omura, T. Ninomiya

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 465-469

    • Resumen
    

  • Real-time imaging of temperature distribution inside a power device under a power cycling test

    A. Watanabe, R. Nagao, I. Omura

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 490-494

    • Resumen
    

  • Clamp type built-in current sensor using PCB in high-voltage power modules

    M. Tsukuda, K. Nakashima, S. Tabata, K. Hasegawa, I. Omura

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 517-521

    • Resumen
    

  • Power Electronics Innovation with Next Generation Advanced Power Devices

    Y. Sato, H. Tadano, H. Ohashi, I. Omura, S. Matsumoto

    IEICE transactions on communications, ISSN 0916-8516, Vol. 87, Nº 12, 2004, pág. 3422

    

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