Periodo de publicación recogido
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Heng Zhang, Qiang Miao, Xin Zhang, Zhiwen Liu
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 81, 2018, págs. 288-298
Qiang Miao, Xin Zhang, Zhiwen Liu, Heng Zhang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 75, 2017, págs. 223-232
Remaining useful life prediction of lithium-ion battery using an improved UPF method based on MCMC
Xin Zhang, Qiang Miao, Zhiwen Liu
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 75, 2017, págs. 288-295
Ordered amino-functionalized mesoporous silica thin films for high-density DNA probes
Feng Zhang, Kwong-Yu Chan, Ren-Feng Guan, Xin Zhang
Scripta materialia, ISSN 1359-6462, Vol. 54, Nº. 9, 2006, págs. 1651-1654
Kwong-Yu Chan, Xin Zhang, Feng Zhang
Scripta materialia, ISSN 1359-6462, Vol. 51, Nº. 4, 2004, págs. 343-347
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