Periodo de publicación recogido
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Heng Zhang, Qiang Miao, Xin Zhang, Zhiwen Liu
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 81, 2018, págs. 288-298
Recent progress on electro-mechanical system prognostics and health management
Qiang Miao, Datong Liu
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 75, 2017, págs. 195-196
Qiang Miao, Xin Zhang, Zhiwen Liu, Heng Zhang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 75, 2017, págs. 223-232
Remaining useful life prediction of lithium-ion battery using an improved UPF method based on MCMC
Xin Zhang, Qiang Miao, Zhiwen Liu
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 75, 2017, págs. 288-295
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