Periodo de publicación recogido
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Investigation on NBTI-induced dynamic variability in nanoscale CMOS devices: Modeling, experimental evidence, and impact on circuits
Shaofeng Guo, Runsheng Wang, Pengpeng Ren, Changze Liu, Mulong Luo, Xiaobo Jiang, Yangyuan Wang, Ru Huang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 81, 2018, págs. 101-111
Monte Carlo simulations of gas flow and heat transfer in vacuum packaged MEMS devices
Ru Huang, Moran Wang, Xing Zhang, Hongwei Liu, Jinku Wang, Guoyan Zhang, Huailin Liao
Applied thermal engineering, ISSN 1359-4311, Vol. 27, Nº 2, 2007, págs. 323-329
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