F. Irrera
Periodo de publicación recogido
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Artículos de revistas
Reliability improvements in 50 nm MLC NAND flash memory using short voltage programming pulses.
F. Irrera, I. Piccoli, G. Puzzilli, M. Rossini, T. Vali
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 2, 2009, págs. 135-138
Characterization of charge trapping in SiO2/Al2O3 dielectric stacks by pulsed C¿V technique.
G. Puzzilli, B. Govoreanu, F. Irrera, M. Rosmeulen, J.V. Houdt
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 4-5, 2007, págs. 508-512
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