T. Smedes
Periodo de publicación recogido
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Artículos de revistas
ESD robust high-voltage active clamps.
G. Notermans, O. Quittard, A. Heringa, Z. Mrcarica, F. Blanc, H. van Zwol, T. Smedes, T. Keller, P.D. Jong
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 12, 2009, págs. 1433-1439
An ESD test reduction method for complex devices.
D. Maksimovic, F. Blanc, G. Notermans, T. Smedes, T. Keller
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 12, 2009, págs. 1465-1469
ESD testing of devices, ICs and systems.
T. Smedes
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 941-945
Selecting an appropriate ESD protection for discrete RF power LDMOSTs.
T. Smedes, J. de Boet, T. Rödle
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 7, 2007, págs. 1000-1007
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