W.J. Roesch

• Artículos de revistas (4)

• Artículos de revistas

  • Discovering and reducing defects in MIM capacitors

    W.J. Roesch, D.J.M. Hamada

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 81, 2018, págs. 299-305

    • Resumen
    

  • Forensic characterization of thin film resistor degradation.

    W.J. Roesch

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 7, 2008, págs. 958-964

    

  • A wafer-level approach to device lifetesting.

    D.J.M. Hamada, W.J. Roesch

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 7, 2008, págs. 985-989

    

  • Field returns, a source of natural failure mechanisms.

    W.J. Roesch, S. Brockett

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 8, 2007, págs. 1156-1165

    

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