Periodo de publicación recogido
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A. Aubert, L. Dantas De Morais, J.P. Rebrasse
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1144-1148
Localization of sensitive areas of power AC switch under thermal laser stimulation.
S. Debleds, J.P. Rebrasse, L.D. De Morais, R. Frapreau, R. Perdreau, B. Morillon
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1569-1573
L.D. De Morais, F. Allanic, F. Roqueta, J.P. Rebrasse
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1614-1618
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