U. Scheuermann

• Artículos de revistas (3)

• Artículos de revistas

  • Impact of load pulse duration on power cycling lifetime of chip interconnection solder joints

    M. Junghaenel, U. Scheuermann

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 480-484

    • Resumen
    

  • Reliability challenges of automotive power electronics.

    U. Scheuermann

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1319-1325

    

  • Reliability of spring pressure contacts under environmental stress.

    F. Lang, U. Scheuermann

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1761-1766

    

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