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Identificadores de autorPeriodo de publicación recogido
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Building ATMR circuits using approximate library and heuristic approaches
Iuri Albandes Cunha Gomes, Mayler G. A. Martins, Sergio Cuenca Asensi, Fernanda G. L. Kastensmidt
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 97, 2019, págs. 24-30
Impact of different transistor arrangements on gate variability
A.L. Zimpeck, C. Meinhardt, L. Artola, G. Hubert, Fernanda G. L. Kastensmidt, R.A.L. Reis
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 111-115
L.A. Tambara, E. Chielle, Fernanda G. L. Kastensmidt, G. Tsiligiannis, S. Danzeca, M. Brugger, Angelo Masi
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 640-643
Evaluation of radiation-induced soft error in majority voters designed in 7 nm FinFET technology
Y.Q. de Aguiar, L. Artola, G. Hubert, C. Meinhardt, Fernanda G. L. Kastensmidt, R.A.L. Reis
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 660-664
Modeling the sensitivity of CMOS circuits to radiation induced single event transients.
G.I. Wirth, M.G. Vieira, E.H. Neto, Fernanda G. L. Kastensmidt
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 1, 2008, págs. 29-36
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