Periodo de publicación recogido
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Tin whisker growth on bulk Sn�Pb eutectic doping with Nd.
M. Liu, A.-P. Xian
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 6, 2009, págs. 667-672
Whisker growth on tin finishes of different electrolytes.
B. Jiang, A.-P. Xian
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 1, 2008, págs. 105-110
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