A. Agarwal

• Artículos de revistas (4)

• Artículos de revistas

  • Physical phenomena affecting performance and reliability of 4H�SiC bipolar junction transistors.

    P.G. Muzykov, R.M. Kennedy, Q. (Jon) Zhang, C. Capell, A. Burk, A. Agarwal, T.S. Sudarshan

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 1, 2009, págs. 32-37

    

  • Microstructure and hardness of Al-Mg-Si weldments produced by pulse GTA welding.

    R. Manti, D.K. Dwivedi, A. Agarwal

    International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 36, Nº. 3-4, 2008, págs. 263-269

    

  • Influence of CrC addition in Ni-Cr-Si-B flame sprayed coatings on microstructure, microhardness and wear behaviour.

    S. Harsha, D.K. Dwivedi, A. Agarwal

    International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 38, Nº. 1-2, 2008, págs. 93-101

    

  • Effect of crystallographic defects on the reverse performance of 4H�SiC JBS diodes.

    A. Grekov, Q. Zhang, H. Fatima, A. Agarwal, T. Sudarshan

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 10, 2008, págs. 1664-1668

    

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