Periodo de publicación recogido
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Reliability of 100 nm AlGaN/GaN HEMTs for mm-wave applications
M. Damman, M. Baeumler, V. Polyakov, P. Brückner, H. Konstanzer, R. Quay, M. Mikulla, A. Graff, M. Simon-Najasek
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 292-297
M. Damman, W. Pletschen, P. Waltereit, W. Bronner, R. Quay, Stefan Müller, M. Mikulla, O. Ambacher, P.J. van der Wel, S. Murad, T. Rödle, R. Behtash, F. Bourgeois, K. Riepe, M. Fagerlind, E.Ö. Sveinbjörnsson
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 5, 2009, págs. 474-477
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