Periodo de publicación recogido
|
|
|
R.K. Sharma, R. Gupta, M. Gupta, R.S. Gupta
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 7, 2009, págs. 699-706
R. Gupta, B. Bandyopadhyay
IEE Proceedings: Control theory and applications, ISSN 1350-2379, Vol. 152, Nº 1, 2005, págs. 3-8
Electrical approach to defect depth estimation by stepped infrared thermography
R. Gupta, S. Tuli
IEE Proceedings: Science, measurement and technology, ISSN 1350-2344, Vol. 151, Nº 4, 2004, págs. 298-304
Dynamically increasing the scope of code motions during the high-level synthesis of digital circuits
A. Nicolau, R. Gupta, S. Gupta, N. Dutt
IEE Proceedings: Computers and digital techniques, ISSN 1350-2387, Vol. 150, Nº 5, 2003, págs. 330-337
A windows based simulation tool for generating capacity reliability evaluation
L. Goel, R. Gupta
The International journal of engineering education, ISSN-e 0949-149X, Vol. 13, no. 5, 1997, págs. 347-357
Esta página recoge referencias bibliográficas de materiales disponibles en los fondos de las Bibliotecas que participan en Dialnet. En ningún caso se trata de una página que recoja la producción bibliográfica de un autor de manera exhaustiva. Nos gustaría que los datos aparecieran de la manera más correcta posible, de manera que si detecta algún error en la información que facilitamos, puede hacernos llegar su Sugerencia / Errata.
© 2001-2024 Fundación Dialnet · Todos los derechos reservados