Periodo de publicación recogido
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Correlation between EOS customer return failure cases and Over Voltage Stress (OVS) test method.
J.L. Lefebvre, C. Gautier, F. Barbier
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 952-957
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